【晶圆级电性测试设备】公司以集成电路先进制程研发和量产过程中对于高效率高精度的电性检测需求为突破口,经过多年的研发积累和产品迭代,自主研发出能够应用于芯片制造的工艺开发和量产线的晶圆级WAT电性测试设备。该设备自2020年开始实现稳定量产后,已成功进入多家海内外领先的芯片设计类(Fabless)企业、代工制造类(Foundry)企业、垂直整合制造类(IDM)企业和研发实验室(R&DLab),协助完成多种测试任务,并且高效、精确地提取器件和工艺相关的电性参数,实现以数据驱动芯片产品的功耗-性能-面积-成本(PPAC)优化、可靠性以及成品率提升。为满足不同晶圆厂对设备功能和性价比的需求,公司优化升级并推出了新一代通用型高性能半导体参数测试设备(T4000型号),并协同开发了可靠性测试分析系统(WaferLevelReliability,WLR)等功能,将设备从WAT测试扩展至WLR及SPICE等领域。
更新时间:2024-05-28 14:58:11