天合光能申请跟踪支架老化测试方法和装置专利，准确性高

　　据国家知识产权局公告，天合光能股份有限公司申请一项名为“跟踪支架老化测试方法和装置“，公开号CN117367771A，申请日期为2023年10月。

　　专利摘要显示，本发明提供了一种跟踪支架老化测试方法和装置，其中方法包括接收跟踪支架预设时间内需要老化的老化圈数；采集跟踪支架从测试开始至当前时刻的各个时刻的跟踪角度；根据所述跟踪角度计算跟踪支架的当前运动圈数；判断所述当前运动圈数是否大于等于所述老化圈数，如果是，则结束老化测试，将测试结果设置为完成。本发明根据跟踪角度计算跟踪支架的当前运动圈数，根据当前运动圈数与预设的老化圈数判断老化测试是否完成，准确性高。