来源 :金融界2024-01-30
2024年1月30日消息，据国家知识产权局公告，深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“光源调节方法、缺陷检测方法、设备及系统、存储介质“，公开号CN117475125A，申请日期为2022年7月。
专利摘要显示，本申请实施例提供一种光源调节方法、缺陷检测方法、设备及系统、存储介质，所述方法包括：获取各扫描探头在前一扫描周期采集的目标对象分别在对应检测光源下的图像；确定各个所述图像的图像参数，判断所述图像参数是否满足要求；在任一所述图像参数不满足要求的情况下，根据对应所述图像参数与目标值的差异，基于对应所述检测光源的当前光源参数及目标调整策略，对所述检测光源的光源参数进行调节；获取各所述扫描探头在当前扫描周期采集的所述目标对象分别在调节后的所述检测光源下的图像，返回所述确定所述图像设定的图像参数，判断所述图像参数是否满足要求的步骤；直至所述图像参数均满足要求。