中科飞测-U申请物体表面轮廓采集专利，提高检测速度和精度

　　金融界2024年1月9日消息，据国家知识产权局公告，深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“一种物体表面轮廓采集方法及装置“，公开号CN117367311A，申请日期为2022年7月。

　　专利摘要显示，本发明提供一种物体表面轮廓采集方法，包括：将预设第一厚度的标准件置入上探头和下探头之间的检测区域，确定所述上探头和下探头的距离；所述上探头和下探头光轴重合且出光方向相对；将待测物体置于所述检测区域，所述上探头和所述下探头分别对所述待测物体的上表面和下表面采样，得到一组上采样点和下采样点；对一组上采样点和下采样点，根据所述上探头或下探头的坐标、所述第二上探头读数和所述第二下探头读数以及所述上探头和下探头的距离确定所述上采样点和下采样点的坐标。本物体表面轮廓采集方法检测速度更快，精度更高。