联影医疗取得一种校正杂散射线的方法专利，提高了成像的质量

　　2023年12月1日消息，据国家知识产权局公告，上海联影医疗科技股份有限公司取得一项名为“一种校正杂散射线的方法”的专利，授权公告号CN112971823B，申请日期为2017年8月。

　　专利摘要显示，本申请公开了一种校正杂散射线的方法，该方法包括获取探测器第一通道上的第一信号，以及第二通道上的第二信号；其中，所述第一通道对应于所述探测器的第一视角，所述第二通道对应于所述探测器的第二视角，所述第二视角通过至少部分获取探测器各通道的位置而确定；基于所述第二信号，确定散射线在所述探测器第一通道的第一投影值；以及基于所述第一信号和第一投影值，确定主射线在所述探测器第一通道上的第二投影值。该方法通过校正杂散射线，减少或消除了杂散射线导致的图像伪影，提高了成像的质量。