长盈通申请光纤环高精度温度测试专利，解决了温度不均匀导致测试结果偏差的问题

　　2024年1月2日消息，据国家知识产权局公告，武汉长盈通光电技术股份有限公司申请一项名为“用于光纤环高精度温度测试的保温测试装置”，公开号CN117330104A，申请日期为2023年9月。

　　专利摘要显示，本申请提供一种用于光纤环高精度温度测试的保温测试装置，包括底座，底座上设有中间筒体，中间筒体远离底座的一端设有盖体，中间筒体内底座中央设有内凸起部，内凸起部上放置Y波导组件，中间筒体内用于放置光纤环，Y波导组件用于与光纤环连接，中间筒体侧壁设有夹腔，中间筒体上还设有至少两个第二连通口，第二连通口与夹腔连通，底座一侧设有第一导液管，底座上设有至少两个第一连通口，各第一连通口分别与第一导液管两端连通，夹腔和第一导液管内设有导热液，解决了传统采用温箱测试光纤环时，温度不均匀导致测试结果偏差的问题。