华兴源创申请硬件缺陷检测专利，提高硬件缺陷的检测效率和准确度

　　2023年12月13日消息，据国家知识产权局公告，苏州华兴源创科技股份有限公司申请一项名为“硬件缺陷的检测方法、装置及设备“，公开号CN117218070A，申请日期为2023年8月。

　　专利摘要显示，本发明揭示了一种硬件缺陷的检测方法、装置及设备，方法基于种子生长算法检测缺陷区域，其中，种子点的生成步骤包括：生成过硬件灰度图像的若干线条，线条对应硬件灰度图像上的像素带；对像素带进行相邻像素之间的灰度值的求导；将导数值大于导数阈值的像素点选定为种子点。该方法一方面精准生成缺陷区域，使得缺陷区域判定的效率更高，另一方面生成的效果好，不容易遗漏或将非缺陷区域识别为缺陷区域，所以该检测方法及装置既能提高硬件缺陷的检测效率、又能提高检测的准确度。