瑞芯微申请用于提升闪存可靠性的方法和电子设备专利，有效提升闪存的可靠性

　　据国家知识产权局公告，瑞芯微电子股份有限公司申请一项名为“用于提升闪存可靠性的方法和电子设备“，公开号CN117331495A，申请日期为2023年9月。

　　专利摘要显示，本发明涉及用于提升闪存可靠性的方法和电子设备。该方法包括获取闪存的闪存块的出错数，当闪存块的出错数超出阈值，则判断针对所述闪存块是否进行过重复编程，若已进行过，则对闪存块进行垃圾回收，若未进行过，则对闪存块进行重复编程，以此对NAND的巡检策略进行改进，在原本闪存块的出错数超出阈值需要直接进行GC时，通过重复编程来降低出错数，尽量地避免了系统延时的增加，进而增加了闪存块的使用寿命，从而有效地提升闪存的可靠性。