环旭电子申请测试治具组件专利，有助快速地检测出待测装置或其中的元件不良的问题

　　2024年2月20日消息，据国家知识产权局公告，环旭电子股份有限公司申请一项名为“测试治具组件“，公开号CN117572210A，申请日期为2023年11月。

　　专利摘要显示，一种测试治具组件，用以执行待测装置的测试，待测装置包含多个引脚，测试治具组件包含电路板及转接单元。电路板包含多个测试垫。转接单元包含转接座及多个转接探针，所述多个转接探针中各个的第一端及第二端分别露出于转接座的相对的二表面，所述多个第一端用以分别与所述多个引脚电性连接，所述多个第二端分别与所述多个测试垫电性连接。所述多个测试垫中各个与所述多个转接探针中对应的一个、所述多个引脚中对应的一个用以沿转接探针方向直线地排列。借此，有助快速地检测出待测装置或其中的元件不良的问题。