中科院孙世刚院士一行调研电科芯片

　　近日，受中科院委托，孙世刚院士带队莅临电科芯片，调研特种元器件可靠性与环境适应性技术。

　　院士一行先后参观展厅及检测中心，实地了解产品研制成果与可靠性评价流程，并与技术专家座谈交流，重点围绕技术发展、标准体系、现存短板及攻关方向深入探讨。

　　此次调研为电科芯片进一步明确技术路径、提升可靠性评价与检测能力提供了有力指导。未来，电科芯片将持续攻关关键技术，不断强化特种元器件可靠性保障能力，更好服务国家重大工程需求。