电科芯片应邀参加第一届全国射线探测分析仪器装备学术研讨会

　　近日，电科芯片应邀参加在成都举办的第一届全国射线探测分析仪器装备学术研讨会并作学术报告。本次会议由成都理工大学、地学核技术四川省重点实验室主办，中国核仪器行业协会、四川省核学会、陕西省核学会、中国核学会辐射物理分会协办。会议吸引了中国工程院邓建军院士等350余位来自全国高校、科研机构及企业的专家学者。会议围绕射线探测分析仪器装备的前沿进展、关键技术突破及产学研融合，在八个分论坛（涵盖中子探测、核医学成像、辐射计量仪器、核地质装备等细分领域）进行了深入研讨，旨在共同推动该技术在国家安全、工业检测、医学诊断等关键领域的创新应用。

　　

　　在为期2天的会议中，电科芯片团队全程参与，相关技术人员在分论坛作了题为“基于GAGG:Ce闪烁晶体的能谱探测器”的学术报告。报告针对高光子提取效率、高反射率封装、高精度耦合等核心技术难题，系统介绍了解决方案、技术路线及应用效果。

　　通过本次研讨交流，电科芯片团队深入了解了射线探测领域的最新动态、研究热点与未来发展趋势，为优化学科布局提供了契机。同时，活动有效促进了电科芯片与国内外高校及科研机构在相关领域的交流与合作，进一步提升了电科芯片的行业影响力，为开创高质量发展新局面、增强核心竞争力奠定了更坚实的基础。