来源 :深交所互动易2023-07-17
芥末无疆问西测测试(301306)公司采用算法图形和APG技术实现存储器地址自动累加、翻页功能，实现存储器数据的自动写入、输出比较，实现了对EEPROM、SRAM、NOR flash、NAND flash、EMMC等存储芯片读写擦除功能的自动测试，提升了存储芯片的测试效率。请问董秘是否属实？
2023-07-14 12:47:03
西测测试答芥末无疆
尊敬的投资者您好！上述情况属实。采用算法图形和APG技术可以提升相关器件的开发和测试效率。感谢您的关注！
2023-07-17 19:32:00