国科微申请交叉验证专利，提高了交叉验证的完备性

　　据国家知识产权局公告，湖南国科微电子股份有限公司申请一项名为“一种交叉验证方法、装置、设备及计算机可读存储介质“，公开号CN117743180A，申请日期为2023年12月。

　　专利摘要显示，本发明公开了一种交叉验证方法、装置、设备及计算机可读存储介质，应用于芯片验证技术领域，包括：当确定具有耦合关系的多个测试点不在同一触发契机时，在多个测试点对应的多个触发契机中任意触发契机到达时，更新当前到达的触发契机下的功能覆盖率；通过所述当前到达的触发契机下的更新后的功能覆盖率，更新所述多个测试点的交叉覆盖率。本申请可以对不同的触发契机下的交叉覆盖率进行收集，从而提高了交叉验证的完备性。