国科微申请机顶盒测试专利，该专利技术能提高机顶盒测试效率，降低检测成本

　　据国家知识产权局公告，湖南国科微电子股份有限公司申请一项名为“一种机顶盒测试方法、系统、机顶盒和可读存储介质“，公开号CN117750007A，申请日期为2023年12月。

　　专利摘要显示，本申请涉及机顶盒技术领域，尤其涉及一种机顶盒测试方法、系统、机顶盒和可读存储介质，该方法包括：分别获取启动阶段、播控阶段以及静默阶段时的处理器参数，所述处理器参数包括温度参数以及负荷参数；基于各阶段时的温度参数以及负荷参数，确定所述机顶盒的温升?负荷测试结果。本申请可以提高机顶盒测试效率，降低检测成本，同时能够准确了解机顶盒各阶段的真实温升情况，及时掌握机顶盒的耐高温特性。