国科微申请测试方法专利，可提高测试效率

　　据国家知识产权局公告，湖南国科微电子股份有限公司申请一项名为“测试方法、装置、设备及存储介质“，公开号CN117314882A，申请日期为2023年10月。

　　专利摘要显示，本发明提供一种测试方法、装置、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域。该方法包括：获取采样视频，采样视频包括待测试算法标注的第一标注采样视频和对比算法标注的第二标注采样视频；基于边缘检测算法，根据第一标注采样视频确定第一轮廓，根据第二标注采样视频确定第二轮廓；分别对第一轮廓和第二轮廓的线条进行多边拟合，得到第一轮廓对应的多个第一标注框和第二轮廓对应的多个第二标注框；根据多个第一标注框和多个第二标注框，得到用于对比待测试算法与对比算法间的标注差异的目标平均精度。这样，可减少测试目标检测时人工观测时间，提高测试效率。