工业4.0时代来临，AI、大数据、物联网、机器人等相关技术的快速发展，推动先进制造业全面走向智能化。伴随这一进程，科技产品对先进制造的要求也越来越高：生产工艺控制点变多，生产速度加快，需要检测种类和参数越来越复杂；生产固定浪费难以杜绝，人工质检难以替代且存在漏失风险；产线切换产品涉及工种设备越来越多，柔性生产管理变难。
面临「提质+降本+扩柔」三大行业难题，先进制造亟需检测技术与良率管理的关键支撑，最大化释放「产能」与「良率」潜质，确保生产的安全和可靠。
依托「光机电算软」全栈自研核心技术平台及行业领先的制程检测和良率管理解决方案，精测电子重磅推出AIVIS工业级视觉检测智能工作站，深度融合卷积神经网络（CNN）、Transformer架构及创新自研的零样本异常检测、缺陷生成及自分类技术和小样本学习算法，内置五大协同子系统，覆盖缺陷检测、数据标注、模型管理与迭代学习全流程，高性能实现从光学成像到图像处理，从缺陷检测到数据分析，从模型迭代到工艺优化的全流程智能化，为工业视觉检测领域提供无风险、最优化的智能生产解决方案，稳定性好、泛化性强、性价比高，已广泛应用于显示、新能源、半导体、3C等质检领域。
AIVIS工业级视觉检测智能工作站，采用模块化架构设计，将复杂的系统分解成相对独立、便于管理和灵活调用的模块，实现不同功能插件的灵活组装。智能检测平台、算法开发平台、数据标记和模型训练平台、应用平台、AI全场景工具链条五大子系统分散式部署，支持训练平台一对多检测，减少冗余和定制化研发的工作量，更好地适配同一产线不同产品的生产管理。
智能检测平台:
技术创新实现缺陷高效检出，助力良率提升
AIVIS智能检测平台集数据采集、图像预处理、算法检测、自动报表于一体，综合利用无监督异常检测技术、自监督分类检测技术，为工业视觉检测领域提供无风险、最优化的智能生产解决方案，帮助制造型企业实现缺陷高效识别处理，助力良率提升。
算法开发平台:
开放式扩展架构，算法开发“所见即所得”
AIVIS算法开发平台内置开放式算子扩展架构，可灵活支持算子开发、接入及扩展；搭载可视化算法编辑器，打破传统算法“黑箱模式”，无需编程能力便可通过拖放算子的方式在算法画布中构建算法执行逻辑流程图，真正实现算法开发的“所见即所得”。支持模块化算法扩展与部署，实现工业视觉检测全场景算法落地。
数据标记和模型训练平台:
最优参数配置方案，提升算法开发效率
AIVIS数据标记和模型训练平台支持本地数据标注和AI辅助预标记功能，大幅提升标注效率；提供零代码模型训练能力，内置多种主流神经网络架构，可灵活适配不同应用需求。通过多维度的性能对比帮助用户快速筛选最优模型，实现从数据标注到模型产出的全流程高效闭环。
应用平台:
实时监控，实现告警提醒、保障产线稳定生产
AIVIS应用平台不仅可以通过AI视觉识别实现可反馈、可存储、可复制的标准化、流程化检测，还能通过智能监控、数据分析、异常监控，实现故障报警、设备异常预测、制程良率预警，以及应急处理机制，保障产线稳定生产。
AI全场景工具链条:
实现数据到模型的智能闭环
AIVIS AI全场景工具链条提供从数据管理到模型落地的全流程解决方案，包含智能缺陷生成、异常数据获取、数据清洗、数据质量评估、模型评估和模型自动迭代功能，能够极大提升工业质检模型及应用的开发、训练及部署效率，实现质量可溯源、模型自迭代。
AIVIS工业级视觉检测智能工作站依托零样本学习技术、自分类和模型自迭代，直接上线，基础检出率达80%。
全面采用无监督技术+有监督技术协调作业，在客户端侧设备进行质检能力的分发、部署、升级与管理：基于无监督技术，实现70%的缺陷检出，机种切换时间缩短80%以上；在复杂场景下保持稳定性能，同时进行有监督技术嵌套，通过数据Check，实现剩下高精度复杂缺陷识别与分类，缺陷检出能力行业领先。
AIVIS工业级视觉检测智能工作站有效针对传统工业视觉检测操作复杂、技术门槛高、人为误差等行业痛点，提供向导式配置。
通过流程标准化、交互人性化、知识沉淀化，以逐步引导的方式，潜移默化地帮助用户轻松完成机种配置，降低用户的使用成本，更便捷地达成任务，尤其适合多品种、高精度、强追溯需求的场景，可快速适配不同的工业产品和生产场景，无需大量重新开发工作，易用性强且便于维护。
凭借卓越的技术实力与场景适配能力，精测电子AIVIS工业级视觉检测智能工作站充分满足行业客户定制化场景需求，当前已落地100+智能工厂、AIVIS标准版批量部署套数1000+，已服务于半导体、显示、新能源行业相关Crack、外观检、画质检、AI复判等细分价值场景应用中：
屏幕画面质量检测
AIVIS依托平台“基座大模型+小样本检测”技术架构，突破传统屏幕检测瓶颈，拦截更多缺陷，检出能力达99%，1天内可完成小样本迭代。
Module外观检测
AIVIS依托高分辨率工业相机和深度学习算法，兼顾不同工艺制程、拉通外观检测数据，实现品质追踪和效率提高，满足“零缺陷”制造要求。
新能源锂电、氢电材料及电池成品检测
AIVIS采用“多模型协同架构+注意力机制引导+小样本强化学习”解决方案，实现零漏检的卓越表现，过检率精准控制在万分之五的极低水平。
半导体晶圆检测
AIVIS通过“极限模型裁剪+注意力机制引导”，大幅降低漏检率，可达到过检<0.2%，漏检<0.002%(20PPM)，整体达到行业先进水平。
左右滑动解锁更多
长期以来，精测电子与华中科技大学共建人工智能联合实验室，持续推进“复杂视觉缺陷检测人工智能基础平台研究”项目，共创国际首个无需训练、无需提示的零样本工业缺陷检测方法，并创新性的采用自监督训练的方式对缺陷表征和参数化分类器进行学习，无需人工标注也能精准识别缺陷类别，实现了高精度工业缺陷自主类别划分。
坚持以自主创新为核心，以产学研合作为两翼。精测电子依托人工智能联合实验室，通过打造以AIVIS工业级视觉检测智能工作站为核心，配套全系列软硬件产品的智能检测解决方案，满足不同行业、不同产线的定制化检测需求，打通检测数据与产线制程数据的无缝衔接，全面赋能产线制程管理和良率管理，助力企业客户突破提质、降本、扩柔的核心需求，实现智能制造的范式革新。
作为工业级视觉检测技术先行者，精测电子率先提出通过“质量标准数字化”和“检测模式数字化”，实现“工艺流程模块化”和“缺陷检测智能化”，最终构建支撑先进制造的“良率管理体系”。并以AIVIS 工业级视觉检测智能工作站作为精测电子良率管理解决方案的重要抓手，实现多行业、多领域良率管理，支撑精测电子成为以半导体、显示、新能源行业以测试设备为核心，客户首选的综合服务提供商。