来源 :精测电子2024-05-24
美国时间5月14日，SID 2024美国国际显示周（SID 2024 DISPLAY WEEK）在圣何塞盛大开幕。国际显示周被誉为世界上最大、最具影响力的显示技术专业展会，亦是行业发展的加速器，是全球显示技术专业人士不容错过的年度盛事。精测电子作为泛半导体检测领域领军企业，携重磅新品及技术解决方案亮相展会。
本次显示周，精测电子推出新品JI-NED-HSI AR/VR全视场光谱分析仪系列产品，该系列产品主要针对AR、VR及MR等近眼显示技术，支持全视场FOV（90°/120°）内的高精成像式光谱测量，能够全面掌握产品在整个测量视场内的详尽光谱数据，并针对AR/VR应用中的单像素进行精确的光谱分析，以便于进行颜色显示质量的深入研究。产品采用先进校准及光谱分析技术，确保了测量结果的准确性和可靠性，为近眼显示产品的色彩表现和图像质量提供了强有力的基准数据支持。
今年四月，JI-NED-HSI AR/VR全视场光谱分析仪亮相国际显示大会ICDT 2024，收获了与会专家学者的一致好评，在I-Zone创新产品评选中荣获三等奖。
JI-NED-HSI AR/VR全视场光谱分析仪
此外，M151/L成像亮度计也在本次显示周上备受关注，专为单像素级别的高精度亮度测量而设计的M151/L成像亮度计广泛应用于自动光学检测（AOI）缺陷识别、DeMura修复以及Mura均匀性评价等多个专业领域。其解决方案不仅集成了亮度和对比度测量等核心功能，还扩展了图像预处理、灰尘检测、pixel亮度提取等功能。M151/L 成像亮度计以其卓越的性能和多功能性，为显示技术的质量控制和精确评估提供了强有力的技术支持。
精测电子自2006年成立以来，持续深耕显示检测技术，并基于多年技术积累进入半导体、新能源检测领域，已逐步成为泛半导体检测领域领军企业，拥有完善的产品体系及技术、人才积累；同时，公司积极布局新型显示领域及新兴概念，相继推出多款针对Mini/Micro LED及AR/VR领域的产品及技术解决方案，并已与国内外众多企业达成合作。未来，公司将持续精耕技术，坚持创新，为行业发展注入源源动力。