亿纬锂能申请失效检测专利，提高温度传感器的准确性

　　据国家知识产权局公告，惠州亿纬锂能股份有限公司申请一项名为“温度传感器的失效检测方法、电池管理系统以及存储介质”，公开号CN117129108A，申请日期为2023年9月。

　　专利摘要显示，本申请公开了一种温度传感器的失效检测方法、电池管理系统以及存储介质，其中，该温度传感器的失效检测方法包括：获取温度传感器在多个历史时刻分别采集的多个历史温度值；根据多个历史温度值预测下一时刻的预测温度值，以及获取温度传感器在下一时刻采集的实际温度值；确定预测温度值和实际温度值的温度差值；根据设定时间范围内温度差值的异常次数确定温度传感器的失效等级。通过上述方式，能够提高温度传感器的准确性。