国星光电申请LED老化测试装置专利，能够提高老化测试的效率

　　据国家知识产权局公告，佛山市国星光电股份有限公司申请一项名为“LED老化测试装置“，公开号CN117538792A，申请日期为2023年10月。

　　专利摘要显示，本发明涉及一种LED老化测试装置。本发明的LED老化测试装置，包括包括散热器、基板、电极和稳压二极管，所述散热器上设有多个LED安装位，每个所述LED安装位对应设置一个稳压二极管和至少一组电极，所述基板固定在所述散热器上，所述电极分别与所述基板和稳压二级管电性连接，所述电极还用于电性连接待测LED器件。本发明的稳压二极管与待测试的LED器件并联连接，组成稳压电路。当单个LED器件出现死灯现象时，与之并联的稳压二极管被击穿，老化电路仍处于导通状态，从而不会影响其他LED器件的老化测试，能够提高老化测试的效率。